天星ED-400型渦流測厚(hou)儀(yi)

天星ED-400型(xing)渦流測厚(hou)儀適于(yu)在生產現(xian)場、銷售現(xian)場或施工現(xian)場對產品進行快速、無損的(de)膜厚(hou)檢查， 可(ke)用(yong)于生產(chan)檢(jian)(jian)驗(yan)(yan)、驗(yan)(yan)收檢(jian)(jian)驗(yan)(yan)和(he)質量監督檢(jian)(jian)驗(yan)(yan)。符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁(ci)性金屬(shu)基體(ti)上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。

天星(xing)ED-400型渦流測厚儀自1993年開始生(sheng)產(chan)以來，伴隨著我國鋁加工行業的成長(chang)，其自(zi)身也(ye)在不斷改進和提(ti)高，目前(qian)，已生(sheng)產(chan)了ED200型、ED300型和ED400型(xing)三代(dai)產品，天星ED-400型(xing)渦流測厚(hou)儀是一代產品(pin)，其(qi)產品(pin)質(zhi)量(liang)和測試(shi)精度達到國外(wai)儀器(qi)水平，其(qi)耐用性非常突出，超(chao)過(guo)國內外(wai)儀器(qi)。天星測厚(hou)儀以(yi)良好的質(zhi)量(liang)，及時、優質(zhi)、低費用的售(shou)后服務(wu)得到用戶的廣泛(fan)贊譽和認可，天星測厚(hou)儀在鋁型(xing)材行業的*超(chao)過(guo)90%，成為該行業的產品。

儀器(qi)特點

天星ED-400型渦流(liu)測厚(hou)儀與(yu)ED300型相比，具有如下特點(dian)：

● 量程寬-    ED400型渦流測(ce)厚儀量程(cheng)達到0～500 μm。

● 精度高-    測量精度(du)達到2%。

● 分辨率高-    分(fen)辨率(lv)達(da)到0.1 μm

● 校正簡便-    只校正“0”和“50 μm”兩點，即可在全量程范圍內保(bao)證設計精度。

● 基(ji)體導電(dian)率影響小(xiao)-   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shi)，測量(liang)誤差(cha)不大于1～2 μm。

● 可(ke)靠(kao)性提高-   采(cai)用高(gao)集成度、高(gao)穩定性電(dian)子(zi)器件，電(dian)路結構優(you)化，儀(yi)器可靠性提高(gao)。

● 穩定(ding)性提高-   采用先進的(de)溫度補償技術(shu)，測量值(zhi)隨環境(jing)溫度的(de)變化很小。儀器(qi)校正(zheng)一(yi)次可在生產現場(chang)長期使用。

● 探(tan)頭芯壽命長-   采用(yong)高強度(du)磁芯材(cai)料，微(wei)調了(le)探頭設計(ji)，探頭芯壽(shou)命可(ke)大(da)大(da)延長。

技術(shu)參數

標準配置:

主機           

探頭(tou)           

基體（6063鋁合金）

校正箔片   一(yi)套4片（附檢測報告(gao)）

儀(yi)器(qi)箱

可選附件:

備用探頭

基體(ti)

校正箔片（附檢測報告）